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    X射線(xiàn)鍍層測厚儀XDV-μ/XDV-u-PCB

    描述:品牌:菲希爾X/Y方向:250*220mm;Z軸:140mmX/Y平臺移動(dòng)速度:60mm/s

    • 01/

      產(chǎn)品型號:
    • 02/

      廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 03/

      更新時(shí)間:2023-10-18
    • 04/

      訪(fǎng)問(wèn)量:499

    公司產(chǎn)品系列

    Product range

    咨詢(xún)熱線(xiàn):

    4006655066
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    詳細內容/ Product Details
    適用于無(wú)損分析和測量極微小部件機構上鍍層的厚度,即使是復雜的鍍層結構,也同樣應付自如。

    1、測量極微小部件結構,如印制線(xiàn)路板、接插件或引線(xiàn)框架等;

    2、分析超薄鍍層,如小于 0.1 μm的Au和Pd鍍層;

    3、測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;

    4、分析復雜的多鍍層系統;

    5、全自動(dòng)測量,如在質(zhì)量控制領(lǐng)域。

    項目

    XDV-u/XDV-u-PCB

    品牌

    菲希爾

    可分析鍍層數

     可同時(shí)測量23層鍍層,同時(shí)分析24種元素,進(jìn)行厚度測量和材料分析,從Al到U

    計算方法

    采用基本參數法(內置純元素頻譜庫),沒(méi)有標準片也可以測量


    底材影響 

    無(wú)損測量鍍層時(shí)不受底材影響

    特點(diǎn) 

    能夠顯示mq值(測量品質(zhì)顯示)

    放大倍數

    達到1080X (光學(xué)變焦: 30X,90X,270X;數字變焦: 1X,2X,3X,4X)

    可用樣品平臺面積

     寬x深:370mm x 320mm,開(kāi)槽式設計,可測量大面積線(xiàn)路板

    樣品重量 

    5kg

    樣品高度

    135mm

    測量精度 


    儀器校正后,測量多鍍層標準片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um ,精度:測量平均值與標準片標

    示值之差:(Au)≤5%、(Pd)≤5%、(Ni)≤5% (測量20次,測量時(shí)間60s)。

    測量穩定性


    校正后,測量多鍍層標準片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um,各膜厚的COV:(Au)≤3%、(Pd )≤5%、(Ni )≤3%(測量20次,測量時(shí)間60s)

    重 量

    135Kg

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