產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER描述:品牌:菲希爾X/Y方向:250*220mm;Z軸:140mmX/Y平臺移動(dòng)速度:60mm/s
01/
產(chǎn)品型號:02/
廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家03/
更新時(shí)間:2023-10-1804/
訪(fǎng)問(wèn)量:499Articles
1、測量極微小部件結構,如印制線(xiàn)路板、接插件或引線(xiàn)框架等;
2、分析超薄鍍層,如小于 0.1 μm的Au和Pd鍍層;
3、測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;
4、分析復雜的多鍍層系統;
5、全自動(dòng)測量,如在質(zhì)量控制領(lǐng)域。
項目 | XDV-u/XDV-u-PCB |
品牌 | 菲希爾 |
可分析鍍層數 | 可同時(shí)測量23層鍍層,同時(shí)分析24種元素,進(jìn)行厚度測量和材料分析,從Al到U |
計算方法 | 采用基本參數法(內置純元素頻譜庫),沒(méi)有標準片也可以測量 |
底材影響 | 無(wú)損測量鍍層時(shí)不受底材影響
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特點(diǎn) | 能夠顯示mq值(測量品質(zhì)顯示) |
放大倍數 | 達到1080X (光學(xué)變焦: 30X,90X,270X;數字變焦: 1X,2X,3X,4X) |
可用樣品平臺面積 | 寬x深:370mm x 320mm,開(kāi)槽式設計,可測量大面積線(xiàn)路板 |
樣品重量 | 5kg |
樣品高度 | 135mm |
測量精度 | 儀器校正后,測量多鍍層標準片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um ,精度:測量平均值與標準片標 示值之差:(Au)≤5%、(Pd)≤5%、(Ni)≤5% (測量20次,測量時(shí)間60s)。 |
測量穩定性 | 校正后,測量多鍍層標準片Au/Pd/Ni/Base 0.05/0.09/3um,各膜厚的COV:(Au)≤3%、(Pd )≤5%、(Ni )≤3%(測量20次,測量時(shí)間60s) |
重 量 | 135Kg |