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    X射線(xiàn)熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD

    描述:品牌:菲希爾樣品電大高度:140mmX/Y軸平臺移動(dòng)速度:60mm/s

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      產(chǎn)品型號:
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      廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 03/

      更新時(shí)間:2023-10-18
    • 04/

      訪(fǎng)問(wèn)量:439

    公司產(chǎn)品系列

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    4006655066
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    詳細內容/ Product Details
      X-RAY XDV-SDD是一款應用廣泛的能量色散型X射線(xiàn)熒光鍍層側厚及材料分析儀。它特別適合用于測量和分析超薄鍍層及進(jìn)行痕量分析。其配備了高精度、可編程的X/Y軸工作臺,是全自動(dòng)測量樣品的理想設備。

    1.分析超薄鍍層,如:厚度≤0.1umAuPa鍍層;

    2.印刷線(xiàn)路板上RoHsWEEE要求的痕量分析;

    3.黃金成分分析

    4.測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層;

    5.分析復雜的多鍍層系統;

    6.全自動(dòng)測量,如:用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。

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